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半导体冷热台
参考价:

型号:LRT-P1

更新时间:2021-09-27  |  阅读:317

详情介绍

  LRT-P1半导体冷热台采用半导体致冷,配合低温循环液,实现从-40到180℃的控温。

  结构紧凑,适用于各种变温测试

  Z大温度范围-40~180℃(选型)

  气密腔室设计,可通保护气体

  多探针测试

  上位机软件控制

  支持改动或定制

  温控特性:

  1. 温度范围:

  下限温度(选型):A. -30  B. -40

  上限温度(选型):A. 120  B. 180

  2. 控温速度:0~10℃/min

  3. 温度分辨率:0.1℃

  4. 温度稳定性:±0.1℃

  5. 温度控制:高精度PID控制

  6. 载样台材质:铜

  7. 温度传感器:PT100

  8. 冷却方式:低温循环液

  光学特性:

  1. 光路:反射光路

  2. 视窗:可拆卸更换,可用不同材质玻璃实现不同波段光观察

  3. Z小物镜工作距离:12.0mm

  4. 上盖视窗:φ25mm

  结构特性:

  1. 样品台面尺寸:40x40mm(以实际尺寸为准)

  2. 样品腔高度:9.0mm(载样台上部空间高度)

  3. 放样:移除上盖后放置样品,固定探针

  4. 气氛控制:默认气密腔室,通过2个快速自锁接头,充入保护气氛

  *可升级为真空腔室,10-3mBar

  5. 安装固定:水平安装

  6. 台体尺寸:150x150x36mm

  电学特性:

  1. 探针:4个固定式探针(紫铜镀金)

  2. 探针接口:默认为BNC接头

  *可升级为同轴BNC

  3. 样品台面电位:默认电悬空,可选电接地

  LRT-P1半导体冷热台配置清单:

  基本配置:

  LRT-P1冷热台 x1   高低温控制器 x1   低温冷却循环机 x1   温控软件 x1

  选配:

  电脑主机/安装支架/测试源表/同轴BNC/真空系统/湿度控制系统/定制控制软件

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