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变温XRD
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更新时间:2022-03-25  |  阅读:343

详情介绍

变温XRD结构紧凑,适用于多种材料的变温XRD测试

最大温度范围 -190 ℃ 到 600 ℃ (可选性)

气密腔室设计,可升级真空腔室或通保护气体

衍射角0-164°

样品台23 x 23mm银质

上位机软件控制

支持改动或定制

典型应用

1、对药物和食品成分的晶体结构进行原位特性分析

2、在固-固和固-气反应过程中化学组成的改变

3、精确确定热金属晶格膨胀系数

4、聚合物材料研究

温控特性

1. 温度范围

下限温度(选型):A. -100  B. -120  C. -150  D. -190

上限温度(选型):A. 100  B. 200  C. 400  D. 600

2. 控温速度:0~10/min

3. 温度分辨率:0.1

4. 温度稳定性:±0.1

5. 温度控制:高精度PID控制(液氮制冷,电热丝加热)

6. 载样台材质:银质

7.温度传感器:PT100

光学特性

1. 光路:反射几何光路

2. 衍射角:0-164°(可定制)

3. 视窗:可拆卸更换,可用不同材质实现不同波段光观察

4. 透光孔:默认无透光孔,可升级增设透光孔

5. 视窗除霜:负温下吹气除霜管路

结构特性

1. 样品台面尺寸:23x23mm(以实际尺寸为准)

2.气氛控制:默认气密腔室,充入保护气氛*可升级为真空腔室,10-3mBar

3. 外壳冷却:通循环水,防止外壳过热

4. 安装固定:水平安装

配置清单

基本配置:

LRT-XXRD冷热台 x1   GD-001高低温控制器 x1液氮罐 x1   温控软件x1

选配:

电脑主机/安装支架/真空系统/循环水系统/湿度控制系统/定制控制软件

 
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